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​電工電子產品環境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

GB/T 5170包含以下部分：

——GB/T 5170.1－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則

——GB/T 5170.2－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備

——GB/T 5170.5－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備

——GB/T 5170.8－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 鹽霧試驗設備

——GB/T 5170.9－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備

——GB/T 5170.10－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備

——GB/T 5170.11－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備

——GB/T 5170.13－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動台

——GB/T 5170.14－1985 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動台

——GB/T 5170.15－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動台

——GB/T 5170.16－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 穩態加速度試驗用離心機

——GB/T 5170.17－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備

——GB/T 5170.18－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/濕度組合循環試驗設備

——GB/T 5170.19－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設備

——GB/T 5170.20－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 水試驗設備本部分是GB/T 5170的第5部分。

本部分代替GB/T 5170.5－1996。與GB/T 5170.5－1996相比，技術內容主要有如下變化：

——標準名稱“電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 濕熱試驗設備”更改為“電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備”；

——所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；

——增加了“術語和定義”一章；

——增加了“相對濕度波動度”檢驗項目；

——增加了“相對濕度均勻度” 檢驗項目；

——增加了“每 5min 溫度平均變化速率” 檢驗項目；

——增加了“溫度指示誤差” 檢驗項目；

——增加了“相對濕度指示誤差” 檢驗項目；

——增加了“溫度過衝量” 檢驗項目；

——增加了“相對濕度過衝量” 檢驗項目；

——增加了“溫度過衝恢複時間” 檢驗項目；

——增加了“相對濕度過衝恢複時間” 檢驗項目；

——增加了“噪聲” 檢驗項目；

——在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量係統和濕度測量係統其測量結果的擴展不確定度（k=2）的要求；

——增加了“檢驗負載”一章；

——測量數據記錄改為每一分鍾記錄一次數據；

——增加了附錄 A “檢驗項目的選擇”；

——增加了附錄 B “幹濕表法測量相對濕度”。附錄A和附錄B為規範性附錄。

本部分由全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會(SAC/TC 8)提出並歸口。本部分起草單位：信息產業部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。本部分所代替標準的曆次版本發布情況：

——GB/T 5170.5-1985，GB/T 5170.6-1985，GB/T 5170.7-1985，GB/T 5170.5-1996。